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芯硅谷 数显测厚表
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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ARL 9900 X射线荧光光谱仪
集成 XRD 功能的 Thermo Scientific ARL 9900 XRF 系列是一款高效的多功能 X 射线分析系统,兼具 XRF 和 XRD 技术,用于过程控制。ARL 9900 能够满足
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X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚天瑞仪器 电镀行业综合
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣,适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域
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浪声 X射线荧光测厚仪 镀层分析仪 晓INSIGHT PCB、晶圆版
晓INSIGHT镀层测厚仪,高性能探测器,测量低至1纳米,可测多达5层,可检测微小件、不均匀件等,一站式解决方案,免费测样,终身维护,品质无忧!
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。
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多道X射线荧光光谱仪MXF-2400
FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 MXF-2400型:从主元素到杂质元素,可同时无损分析36种元素。(分析范围:4Be,5B,6C~92U) 配置4kW(薄窗)的X
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赛默飞ARL 9900 X射线荧光光谱仪
集成 XRD 功能的 Thermo Scientific ARL 9900 XRF 系列是一款高效的多功能 X 射线分析系统,兼具 XRF 和 XRD 技术,用于过程控制。ARL 9900 能够满足
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能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100
超高性能X射线荧光光谱仪,无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮! 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度!高速!高分辨率! 大幅
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